SXBR-Z变压器绕组变形特性测试仪 SXBR-Z

一、产品概述

当变压器在试验过程中出现匝间、相间短路，在运行中出现短路或其他故障因电磁拉力造成线圈移位，在运输过程中发送碰撞造成线圈相对移位，这些因素都会使变压器分布参数发生变化，其频域响应也发生变化，根据频域响应曲线即可判断变压器的变形程度。

SXBR-Z变压器绕阻变形测试仪采用先进的DDS扫频技术、高集成化微处理设计，能准确绘制各项频域响应曲线，通过测量曲线的横向、纵向对比，可以准确的判断变压器的变形程度。

二、功能特点

1.采用先进的DDS扫频技术

2.采用双电源供电：市电AC220V±10%，内电源6V5AH蓄电池

3.采用高速，高集成化微处理器设计

4.输出正弦波幅值可通过软件设置；

5.双通道16位AD采样

6. 8寸彩色触摸屏，亮度可调

7.*多可以保存120组测量数据，供随时查阅或上传至PC机

8.有强大的上位机软件，曲线分析、打印和生成word文档

9. USB2.0接口,支持数据上传和联机测试

10.主机尺寸：35cmX21cmX21cm

11.主机重量：约5KG

三、技术参数

1.设置6种不同的扫描方式：

线性 1K-1000KHZ_1.0步进1KHZ    1000点

线性 1K-1000KHZ_0.5步进0.5KHZ   2000点

线性 1K-2000KHZ_1.0步进1KHZ    2000点

线性 1K-2000KHZ_0.5步进0.5KHZ4000点

分段100HZ - 1000KHZ  1440点

分段100HZ - 2000KHZ    2440点

2.测量范围：(-100dB） - （+20dB）

3.测量精度：0.1dB

4.扫描频率精度：0.01%

5.信号输入阻抗：1MΩ

6.信号输出阻抗：50Ω

7.同相测试重复率：99.5%

四、现场应用案例图集

更多产品详情见http://www.whsxdl.com/products/35/144.html。